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產品信息

產品名稱:B1S
產品型號:B1S
生產廠商:GE
產品數量:10000
產品單價:電議

B1S

B1S

B1S

以上需要詳細資料請致電我司
深圳華清儀器儀表有限公司
李登彪  18675597965
0755-28199550   QQ 2234837666

B1S

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接觸法探頭

接觸法直探頭, 保護膜,帶保護膜探頭

應用

?   一般檢測目的, 簡單形狀的大零件

?   鍛件, 鑄件

?   板材, 棒材, 方型材

?   容器, 機器零件, 殼體

?   高溫檢測時帶延遲塊

性能特征

?   歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進耦合

- 延長探頭壽命

- 適于DGS缺陷評定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo    (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側裝, 頂裝可選

?   美款有三種類型的保護:

- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.

- 耐磨帽定期更換可無期限延長探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實現  00°F (  00°C)表面檢測.

- BNC 連接端口, 頂裝或側裝

接觸法探頭

接觸探頭主要用于手動檢測。應用接觸法探傷時,需要在測量區域或多個測量區域涂上薄薄的一層耦合劑,然后直接將探頭 放置在被測物體表面進行檢測。

耦合劑(用于藕合探頭和被測物,如油,甘油等)添加在探頭 和被測物體之間的空氣間隙中,使聲波傳輸進入被測物體。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測點逐點檢測,或者在被測 物體表面連續移動探頭來完成的。

大 表 面 要 以 某 種 網 狀 模 式 進 行 掃 描 檢 測 , 網 格 的 寬 度 取 決 于缺陷的程度和檢測標準。

如果不能使用耦合劑,那么就要在某些探頭上使用耦合帽,它由軟塑料制成。

有 兩 種 類 型 的 探 頭 可 供 檢 測 選 用 : 單 探 頭 ( 圖 1 ) 和 雙 晶 探頭 ( 圖 2 ) 。 兩 種 探 頭 都 是 在 垂 直 于 被 測 物 體 表 面 的 方 向 上

發 射 和 接 收 脈 沖 ( 直 探 頭 ) , 或 者 是 在 與 被 測 物 體 表 面 成 一 定角度的方向上發射和接收脈沖(斜探頭,圖3)。

 

接觸式探頭的選擇標準

對于選用探頭沒有特別規定時,以下為的探頭選用標準供

參考:

首先,要決定選用單探頭還是TR探頭。如果要探測近表面的缺 陷,那么TR探頭更合適些。

其次,就是根據預期的缺陷位置決定使用直探頭還是斜探頭。

根據聲波的鏡面反射原理,聲束應該垂直入射到反射面。當頻

率增加時,這一點必須要特別加以注意。

第三,考慮檢測分辨率(聲束寬度)。 后,根據表中給出的數據和給出的探頭類別選擇,可以依據尺寸、頻率、波譜和工作量程等選擇合適的探頭.

帶可更換保護膜的直探頭

 

B0.5SL

形狀與粗晶探頭 K0.5SK1S相同

B2S

設計上與K..SC探頭相同

MB4S

設計上與MK..S探頭相同

B2S-0

形狀與K0.5SMK1SM探頭相同

主要特性:

·單晶探頭實現聲波的發射和接收

·縱波垂直傳輸

·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上,由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩定的耦合特性

·如果及時地更換保護膜,則探頭的磨損可以達到小

·特殊的粗晶探頭,在測試高衰減材料時,利用短脈沖可以達到高信噪比

·由于采用印模壓鑄成型,因此實際形狀具有很高的穩定性

主要應用領域

通常:用于容器或者平行于表面的缺陷探測和評估??筛鼡Q的

抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達到 好耦合,并防止探頭磨損。

B..SL

用于檢測中等尺寸和大尺寸物體,它們由于聲程長(例如大的

鍛 件 或 球 墨 鑄 鐵 ) 而 導 致 聲 波 衰 減 嚴 重 。 它 們 也 適 用 于 檢 測

具 有 強 聲 波 吸 收 特 性 的 塑 料 材 料 ( 例 如 尼 龍 、 特 氟 龍 、 聚 丙 烯),為增加靈敏度和分辨率,可以將保護膜去掉。

K..S,K..SM,K..SCMK..S(粗晶探頭):

用于檢測粗晶粒中等尺寸和大尺寸物體,這種材料的物體由于

聲波的散射作用(例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合

成材料等制成的物體)而使聲波衰減嚴重。

它們也可以用于檢測材料的物理特性(例如建筑材料、巖芯和 半導體材料的特性)。

B..SMB..S: 這類探頭性能參數誤差小,對目前大多數的檢測任務(例如平 板物、條狀物和方形輪廓物體的測試,以及容器和螺釘、螺孔 和外殼等的測試),可以達到高的精度要求。對于由多種材 料(例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料)構成的 形狀簡單的部件檢測也可以達到高精度要求。

 

帶可更換保護膜的直探頭

 

特性:在粗糙表面上具有穩定的耦合性能


帶保護膜探頭—歐洲規格


探頭型號規格

類型

D  [mm]

f  [MHz]

AB  [mm]

N  [mm]

EB  [mm]

備注

K0.5S

34

0.5

100-250

23

10

K1S

34

1

50-1350

46

6

高阻抗粗晶粒材料 檢測

K0.5SM

28

0.5

80-145

15

8

K1SM

28

1

40-780

31

6

K1SC

24

1

35-1200

23

6

K2SC

24

2

18-3000

45

3

粗晶粒材料檢測,特 別適合于應用ZIP技術 檢測塑料材料

MK1S

10

1

30-350

4

6

MK2S

10

2

15-700

8

3

MK4S

10

4

10-1300

16

2

 

 

探頭型號

尺寸

英寸

頻率

尺寸

英寸

B0.5SL

34

 

0.5

 

 

B1SL

34

 

1

 

 

B2SL

30

 

2

 

 

B1S

24

0.94

1

23

0.9

B1S-EN

24

0.94

1

23

0.9

B1S-O

24

0.94

1

23

0.9

B2S

24

0.94

2

45

1.8

B2S-EN

24

0.94

2

45

1.8

B2S-O

24

0.94

2

45

1.8

B2S-O-EN

24

0.94

2

45

1.8

B4S

24

0.94

4

88

3.5

B4S-EN

24

0.94

4

88

3.5

B4S-O

24

0.94

4

88

3.5

B4S-O-EN

24

0.94

4

88

3.5

B5S

24

0.94

5

110

4.3

MB2S

10

0.39

2

8

0.3

MB2S-EN

10

0.39

2

8

0.3

MB2S-O

10

0.39

2

8

0.3

MB4S

10

0.39

4

16

0.6

MB4S-EN

10

0.39

4

16

0.6

MB4S-O

10

0.39

4

16

0.6

MB5S

10

0.39

5

20

0.8

MB5S-O

10

0.39

5

20

0.8

 

可定制特殊規格探頭

 

附件

 

描述

類型

備注

保護膜(1=10片)

ES45

用于B...S

保護膜(1=10片)

ES24

用于MB...S

保護膜(1=10片)

ES57

保護膜(1=100片)

ES12

用于點焊探頭

保護膜(1=100片)

ES14

用于點焊探頭

電纜線

PKLL2

用于B...S

電纜線

MPKL2

用于MB...S

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